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JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于不同金屬材料電阻測(cè)試的專(zhuān)業(yè)設(shè)備，不管是銅金屬材料，導(dǎo)電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層都可以采用這款設(shè)備，金屬電阻率測(cè)試方案核心原則：一是可以用專(zhuān)門(mén)測(cè)試金屬材料電阻率的鎢針探頭，二是要知道金屬材料的測(cè)試范圍能夠更好的為你選配四探針測(cè)試儀。金屬材料屬于硬質(zhì)材料，必須要選擇碳化鎢針探頭，這種探

DRJS-2型電容器金屬化膜測(cè)試儀是一款專(zhuān)門(mén)應(yīng)用于電容器薄膜測(cè)試的設(shè)備， PET薄膜上金屬化膜，真空鍍膜和噴鍍工藝形成，金屬膜厚度極薄，附著力差，容易脫落。 薄膜專(zhuān)用測(cè)試探頭自帶彈簧收縮功能，很好的解決了金屬膜的測(cè)試弱點(diǎn)，自主研發(fā)的高精準(zhǔn)度測(cè)試儀和專(zhuān)用型測(cè)試臺(tái)搭配，測(cè)試探頭測(cè)采用最新的平行四刀法，讓樣品測(cè)試數(shù)據(jù)更穩(wěn)定，重復(fù)性更好。 DRJS-2型電容器金屬化膜測(cè)試儀是目前納米材料和柔性材料研究的重

晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片，其形狀為圓形；晶圓高溫測(cè)試是集成電路行業(yè)一道重要制程，通過(guò)嚴(yán)格的高溫測(cè)試可以預(yù)先剔除不良芯片，降低后續(xù)高昂的封裝成本。WSHD-600型晶圓均勻加熱裝置是一種特殊設(shè)計(jì)的均勻加熱裝置。為保證晶圓高溫測(cè)試精度，要求整個(gè)吸盤(pán)表面各點(diǎn)的溫度控制在設(shè)定溫度±1℃的范圍內(nèi)，最大可以達(dá)到±0.03℃，是目前研究晶圓半導(dǎo)體重要輔助工具。