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2025-03-21
+2024-11-13
+2024-10-23
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產(chǎn)品簡介 GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當前的自動平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀，產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復雜繁瑣的操作界面?；赪indows10操作系統(tǒng)。實現(xiàn)了全電腦化操作界面。讓測試更智能、更簡便。 T 120MHz的頻率瓶頸:解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺陷:中英文操作界面也解決了國外儀器僅有英文界面的增尬:采用單測和分析兩種界面。
TFVT-1000型薄膜變溫電阻測試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴展）的測試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫阻系數(shù)、樣品相變溫度點。而且可廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種導電材料的電阻率測量。是目前科研和生產(chǎn)的重要材料測量設(shè)備。
HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設(shè)備，可以出具CNAS整體認證的專業(yè)材料高溫測量設(shè)備，該儀器采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設(shè)計的懸浮式電路，
HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設(shè)計開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaAsA
GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量，并參考美國A.S.T.M 標準,采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。高低溫介電溫譜測量系統(tǒng)(-190℃-1000℃）電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全。
四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量，并參考美國 A.S.T.M 標準。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。
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