如何通過阻抗分析儀測量樣品的介電常數(shù)

　　我們想通過阻抗分析儀測某種粉體(粒度約100微米左右)在不同溫度下(如室溫至600攝氏度)的介電常數(shù)，現(xiàn)在鄰近實驗室有一臺阻抗分析儀，目前初定的方案是用兩個金電極作為極板，將該樣品壓片做成電介質(zhì)，然后組成一個平板電容，進而通過阻抗分析儀測得該樣品的阻抗譜，然后解譜獲得該平板電容器在不同溫度下的電容，再通過平板電容器的計算公式求得其介電常數(shù)。

　　但是現(xiàn)在有個問題是：測阻抗譜的時候頻率都是一個范圍，但是實際上介電常數(shù)和激發(fā)頻率有很密切的關(guān)系，因此就不知道這樣獲得的介電常數(shù)是哪個激發(fā)頻率下的了。

　　實際上，阻抗和介電常數(shù)都是頻率的函數(shù)，因此，習慣稱的介電常數(shù)應(yīng)該稱為介電系數(shù)更合適些，只不過人們習慣這種稱謂，但介電常數(shù)并不是一個常數(shù)，測試頻率不同，這個常數(shù)也不同。對很多材料，當頻率高于某個頻率時，這個常數(shù)變化很小，或從介電常數(shù)的曲線看，介電常數(shù)-頻率圖出現(xiàn)一個平臺，這時，選取平臺某一點對應(yīng)的頻率，再進行單頻測試，或就用這個數(shù)值，但需要標注為某頻率下的介電常數(shù)為多少。

　　你的測試方法是正確的，但是將粉體壓成致密的片，在陶瓷片的兩個面濺射一層金，或用導電金/銀膏體涂抹陶瓷面，再熱處理(200-400C)，這樣的電極才能保證與材料良好的電接觸。你直接用金屬薄片夾住陶瓷片的做法，很難保證良好的電接觸，除非在較大的壓力下。

　　阻抗分析儀器中，應(yīng)該有單頻選擇的，至于選擇哪個頻率，除了參考文獻外，建議作一個全頻測試，從介電常數(shù)-lgf曲線上平臺段選擇一個頻率，作為繼續(xù)測試的頻率。